4 電阻率探頭和薄層電阻測量儀

產品特性和功能

Napson 4 探頭測量系統使用卡式磁帶類型（*一些 Jandel 的原始類型）。 此外，還提供用于其他公司設備的 6 針連接器類型和小型模塊類型。

（1） 墨盒式（Napson 原裝）[產品圖片 1st]
（2） Jandel 原裝型 [產品圖片 2nd]

Jandel的探頭*適合測量半導體和金屬薄膜中的電阻率和薄層電阻，這些材料對精度要求很高，多年來一直受到高度評價。

• ※得益于V形彈簧，針壓始終保持穩定。
• ※頂部和底部都使用寶石導軌來固定探頭，從而實現針對針的準確性和穩定性。
• ※軸與**一體化，**損壞較少，耐久性**。

測量規格

根據要測量的樣品的材料、表面狀況和形狀選擇類型。

推薦參考示例

※除上述樣品外，還可以測量（導電）。 請聯系我們。

• ※其他類型也可用。
• ※特殊規格也可咨詢。

（關于零件號）
<Example> TC-40μ-200g/1.00mm

• 針頭材質：TC; 碳化鎢（OS; 鋨合金）
• 針尖半徑：40 μm（可以從 25 μm 到 500 μm）
• 針壓（g/線）：200 g（可以從 10 g 到 250 g）
• 針距：1.00mm（可從0.5mm到1.59mm）
• 針排列：線性（標準）（方形可）